激光粒度分析仪

更新时间:2021-10-12

作为激光散射技术研究的先行者,经过近半个世纪的不断探索,开发出一代又一代先进的激光粒度分析仪。全新的S3500系列激光粒度分析仪以革新的技术,拓展测试下限至0.01μm。它采用现代模块式设计,内置高能量,高稳定性,超长寿命的固体二级管激光器。对非球形颗粒的米氏理论修正,保证每一次样品分析的测量精度。
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作为激光散射技术研究的先行者,经过近半个世纪的不断探索,开发出一代又一代先进的激光粒度分析仪。全新的S3500系列激光粒度分析仪以革新的技术,拓展测试下限至0.01μm。它采用现代模块式设计,内置高能量,高稳定性,超长寿命的固体二级管激光器。对非球形颗粒的米氏理论修正,保证每一次样品分析的测量精度。


Microtrac S3500系列产品

蓝波2型(BWDL)):湿法测量范围:0.01-2,800μm;

蓝波1型(BWSL)):湿法测量范围:0.01-2,000μm;

增强型(Enhanced):湿法测量范围:0.02-2,800μm;

扩展型(eXtended):湿法测量范围:0.02-2,000μm;

特殊型(speciaL):湿法测量范围:0.09-1,500μm;

标准型(Standard):湿法测量范围:0.25-1,500μm;

高端型(High):湿法测量范围:2.75-2,800μm;

基本型(Basic):湿法测量范围:0.70-1,000μm;


* 欢迎定制更宽的测量范围


主要特点:

• Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点"的影响和多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关);

• “Bluewave"激光技术,拓展测量下限至0.01μm;

• 无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率;

• 引进“非球形"颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库,提高颗粒粒度分布测试的准确性;

• 系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度;

• 多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致;

• 现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要;

• 数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告形式任意组合,数据存储兼容性强;

• NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器;


日本型号:MT3300、MT3200、MT3100

产品参数
测量范围0.01μm-2,800μm
测量精度0.6%
测量时间10-30 秒
所需样品量0.05-2g
兼容性与任何常用有机溶剂兼容
光源三束3mW 780nm固体二极管激光器, 电脑控制自动校准
准直功能电脑控制自动对光
光路固定光学平台,傅利叶光路结合双透镜技术
接受角度0.02-163°
检测器高灵敏硅光电二极管
检测器数量151个对数方式优化排列
操作灵活兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系统
报告格式体积,数量和面积分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据以ODBC形式输出兼容其他统计分析软件和文字
处理软件安全性数据的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
环境要求温度5-40℃
相对湿度小于90%
电源要求90-240 VAC, 5A,50/60Hz
主机尺寸360H x 560W x 460D mm
标准化符合ISO 13320-1 激光粒度分析国际标准
完整配置固定光学平台, 样品分散系统, 计算机/打印机, 数据处理软件


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